質問です。
複数画像がXY方向にオフセットしているとき、
基準となるオブジェクトに位置合わせを原点として
解析する領域を可変して設定したいのですが可能でしょうか？
下記、イメージ
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ご質問ありがとうございます。
基準オブジェクトを見つけて、一定距離にある解析領域を見つけたいということですね。
基準オブジェクトが回転している場合になりますが、以下の記事が参考になると思います。
基準となるオブジェクトが回転しないのであれば、位置合わせタスクを使わなくても、上記のトピックのようにオフセットの設定を行えば、解析したい領域が見つけられると思います。
解析したい領域に分類のAIタスクを適用したいのですが、
具体的にはどういうタスクを並べればよいでしょうか？
下記の様に分類から、オフセットの設定ができるのか
あるいは、別のタスクを追加するのでしょうか？
ご提示いただいた画像を用いて分類タスクでオフセットを使用する例を紹介したいと思います。
基準オブジェクトから一定距離にある領域を解析
- 基準オブジェクト検出用の領域検出を追加
- 基準オブジェクト検出のアノテーション及び学習
ここでは結果だけ表示します。
- 分類タスクの追加
- 分類タスクの解析領域の設定
解析領域が図の青い領域と同じ大きさになるようにモードを固定にしてサイズを70×66に設定
解析領域が図の青い領域に重なるようにオフセットを(-168,-58)に設定
このように設定することで画像A,B,Cに対して解析したい領域を設定出来ます。
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ありがとうございます。
上記手順にてやりたいこと実現できました。
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